Spectrum Analyzer (Spectroradiometer)
Goniophotometer (light distribution curve tester)
LED flicker characteristic tester
Architectural lighting inspection
UV radiation detector
LED life and aging tester
Drive power and electronic ballast tester
Illuminance meter/Luminance meter/Photometer
Digital electrical parameter measuring instrument
Precision test power supply (AC/DC)
Electromagnetic compatibility (EMC) test system
Environmental safety testing equipment
Supporting test equipment
一、LED老化試驗(SMD)
LED老化試驗儀針各種貼片LED的進行多路老化試驗,且每路具有獨立恒流源。儀器具有三種老化方式,在恒流和沖擊老化方式下顯示正向電流的電流值、頻率或占空比;在開關老化方式下,顯示開關次數。并對老化時間進行顯示記錄。
系統組成
CHL-120 LED老化試驗儀,LED老化試驗儀專用夾具,LED老化試驗儀專用軟件,PC機組成。
二、LED加速老化試驗儀
加速老化試驗儀專門針對LED老化試驗。電流、頻率、占空比、老化時間均智能可調,配備6組獨立恒流電源對60個不同工位LED進行單獨供電。相關測試參數可根據用戶需要自由設定。從而實現LED額定要求條件下的常規老化試驗和過載沖擊條件下的加速老化試驗。儀器具有可靠性好、調節方便、壽命長等優點,是LED老化試驗的首先產品。
系統組成
CHL-600 加速老化試驗儀,CHL-600 加速老化試驗儀專用測試夾具,加速老化試驗儀專用軟件,PC機等組成。
三、LED燈具加速老化和壽命測試系統
LED燈具加速老化和壽命測試系統主要用于LED模組或LED燈具的常規老化、加速老化、光通維持特性試驗、溫度特性試驗、壽命試驗、顏色偏移測試,并具 備LED模塊或燈具壽命推算及預估功能。系統主要參考IES LM-80-08標準及IES TM-21-11標準設計。安裝在上位機內的 LTS-3000 燈具加速老化和壽命測試系統軟件可通過RS232或RS485串行通訊接口程序控制本系統,控制過程中可逐個點亮或全部點亮被測光源, 本系統最多可控制16個被測光源,上位機逐個點亮被測光源時,可通過WT105 數字電參數測量儀、CHL-3 LED光色快速測試儀、TMP-X 多路 溫度巡檢儀將被點亮的LED燈具的光、色、電、溫度(燈具殼溫)特性參數通過相同的串行通訊接口傳回上位機。再由上位機內的LTS-3000 燈具加速老 化和壽命測試系統軟件分析各個被測LED燈具的光通維持特性、溫度特性、壽命特性、顏色偏移等,再根據IES TM-21-11推算。
系統組成
由 LTS-3000 燈具加速老化和壽命測試系統軟件、WT105 數字電參數測量儀、CHL- 3 LED光色快速測試儀、CHP-XXX交流變頻測試穩壓電源、TMP-X 多路溫度巡檢儀、高低溫試驗箱、CHCP-18 多路供電控制系統、19英寸標準機柜、MCB-III多路通訊集成器組成。
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