Spectrum Analyzer (Spectroradiometer)
Goniophotometer (light distribution curve tester)
LED flicker characteristic tester
Architectural lighting inspection
UV radiation detector
LED life and aging tester
Drive power and electronic ballast tester
Illuminance meter/Luminance meter/Photometer
Digital electrical parameter measuring instrument
Precision test power supply (AC/DC)
Electromagnetic compatibility (EMC) test system
Environmental safety testing equipment
Supporting test equipment
○ 自帶WIFI功能,可實現主機與探頭分離遠距離靈活測量
○ 內置電池及存儲卡,可實現隨時測量隨時保存
○ 大尺寸觸控屏,可實現人機交互
SPF系列光譜頻閃彩色照度計是包括光譜、頻閃、照度、藍光、節律照明、植物生長燈等測量功能于一體,針對建筑照明及現場健康照明檢測而研發的便攜式光譜頻閃測量儀,可實現快速測試。彌補了傳統照度計及色度計的光譜失配問題,具有較好的測量線性及測量準確度。
照度:照度、平均照度
頻閃:閃爍百分比(波動深度)、頻閃指數、閃爍頻率、SVM(頻閃效應可視度)、PstLM(閃變指數)、Mp(符合ASSIST標準推薦)、CA CEC、Std1789、ASSIST
光譜:相對光譜功率分布 P(λ)、光譜輻照度 E(λ)、色品坐標:(x,y)、(u,v)、(u',v')、相關色溫 CCT(Tc)、顯色指數 Ra,Ri(i=1~15)、色容差 SDCM(麥克亞當橢圓、矩形框)、峰值波長、主波長、半寬度、色純度、光照度E、紅藍輻射比ER 、藍光輻照度 Eb(W/m2)、黃光輻照度Ey(W/m2)、紅光輻照度 Er(W/m2)
節律照明:M/P比率、黑視素輻照度、黑視素等效日光效率
藍光危險:藍光危險等級、藍光危害輻照、最大曝輻時間
植物生長燈:光合有效輻射Ee(PAR W/m2)、葉綠素(Ech)A (W/m2)、葉綠素(Ech)B (W/m2)有效輻射、光合光子通量密度PPFD(umol/s/m2)、PPFD(400-500nm)(umol/s/m2)、 PPFD(500-600nm) (umol/s/m2)、PPFD(600-700nm) (umol/s/m2)、紅外光合光子通量密度PPFDfr(700-780nm) (umol/s/m2)
> 照度測量范圍:0.1lx~200000lx
> 照度準確度:±(3%讀數+1 個字)
> 色溫范圍:1000K~100000K
> 波長范圍:380nm~780nm
> 波長準確定:±0.5nm
> 色品坐標準確度 :±0.001(相對于穩定度優于±0.0001 的標準光源和NIM 溯源值)
> 濾光片修正:有
> 雜散光:≤0.3%
> 光度通道線性:±0.3%
> FFT 范圍:0Hz~20kHz
> 操作溫度/濕度范圍:5℃~35℃,相對濕度≤80%(無冷凝)
> 通訊接口:TYPE-C/USB
自帶WIFI功能,可實現主機與探頭分離遠距離靈活測量
內置電池及存儲卡,可實現隨時測量隨時保存
大尺寸觸控屏,可實現人機交互
1)IEEE Std 1789-2015:IEEE Recommended Practices for Modulating Current in Hightness LEDs for Mitigating Health Risks to Viewers
2)IEC-Pst:IEC TR 61547-1:2015 Equipment for general lighting purposer-EMC immunity requirements:part 1-An objetive voltage fluctuation immunity test method
3)CA CEC:Joint Appendix JA10-Test Method for Measuring Flicker of Lighting Systems and Reporting Requirements
4)ASSIST:These parameters refer to the flicker recommendations of the Alliance for Solid-State Illumination Systems and Technologies published by US Light Research Center
5)CIE SVM: Refers to CIE TN:006-2016:Visual Aspects of Time-Modulated Lighting Systems-Definitions and Measurement Models
現場測量和產線測量
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